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SN-MD 分光密度仪

SN-MD 分光密度仪

功能用途:

分光密度仪采用国际标准化的45/0光学结构,它不仅能够精确测定密度指数 ,更可提供CIELAB 、XYZ等全方位色度数据 ,以及细致入微的色差分析。无论您身处印刷 、包装 、涂料还是纺织领域 ,都能轻松应对各类复杂的色彩匹配及质量控制挑战 。尤其适合油墨印刷中光学密度、网点增大等指标的测量和品质管控。

工作原理:

通过测量口的测量光斑进行定位,方法为:进入标样测量界面或者试样测量界面,然后按下“测量”键并保持,此时测量光斑将出现,通过观察测量光斑与被测样品位置的匹配程度,同时将测量口靠近被测样品并调整位置,可实现对准。

产品特点:

  1. 精准测量,洞察细微。采用先进的光学传感器和算法,以高精度捕捉色彩的每一个细微变化。
  2. 轻巧便携,随心所至。轻便设计,方便携带,让您随时随地进行实地色彩检测。
  3. 快速测量,效率至上。仪器反应速度快,能够在短时间内完成颜色测量,提高生产效率。
  4. 简易操作,轻松上手。用户友好的界面,无需专业知识,人人都能成为色彩专家。
  5. 海量存储,有备无患。大量存储测量数据,随时调用、分析,让您的工作有据可依。
  6. 专业软件,如虎添翼。配套软件提供更多功能,助力您实现更高效的色彩管理。
  7. 卓越光学,精准无误。高品质光学系统,确保测量结果的准确性和一致性。
  8. 实时显示,一目了然。即时呈现测量数据,让您对色彩状况了如指掌。

符合标准:

ISO 5-4、CIE No.15

应用领域:

包装/食品/医药/新材料/化工/印刷

技术参数:

项目
参数
项目
参数
照明方式
45/0(45环形均匀照明0°接收);符合标准ISO 5-4、CIE No.15
照明光源
组合LED光源,UV光源
分光方式
凹面光栅分光
测量波长范围
400~700nm
波长间隔
10nm
半 带 宽
10nm
测量条件
符合ISO 13655测量条件: M0 (CIE光源A) M1 (CIE光源D50) M2 (排除UV的照明) M3 (M2 + 偏振光滤光片)
密度标准
ISO Status T、 E、A、I
密度指数
密度值、密度差、网点面积、网点增大、叠印、印刷特性、印刷反差、色调误差和灰度
测量口径
单一口径Φ2mm
观测光源
A,C,D50,D55,D65,D75,F2,F7,F11,F12
测量时间
约1.5s
重 复 性
密度值:0.01D以内,色度值:ΔE*ab 0.04以内(仪器预热校正后,以间隔5s测量白板30次平均值-M3除外)
尺 寸
184mm*77mm*105mm
重 量
约600g
电池电量
锂电池,8小时内5000次
照明光源寿命
5年大于300万次测量
显 示 屏
TFT 真彩 3.5inch,电容触摸屏
接 口
USB
存储数据
10000条
语言
简体中文,English,繁体中文
操作温度范围
0~40℃,0~85%RH(无凝露),海拔:低于2000m
存储温度范围
-20~50℃,0~85%RH(无凝露)

标准配置:

电源适配器、数据线、内置锂电池、说明书、品管软件(官网下载)、黑白校正盒、保护盖、偏振滤色盒、定位板

用户自备:

微型打印机

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